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SFJ-231D型半導體氦質譜檢漏儀

型号:SFJ-231D型

更新時間:2016-03-04

簡要描述:

SFJ-231D型半導體氦質譜檢漏儀現被廣泛應用于真空工業、制冷工業、半導體、科(kē)學(xué)研究、電力生産、航空航天等領域 。

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詳細介紹
 

  • 操作簡單,通常隻需兩鍵(檢漏和(hé)放氣);
  • 進口的(de)多口分子(zǐ)泵;
  • 雙燈絲自(zì)動切換;
  • 自(zì)動調零;
  • 自(zì)動校準;
  • 自(zì)動量程切換;
  • 銥絲離(lí)子(zǐ)源,使用壽命更長(cháng)。

 


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